Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry / C. Barry Carter, David B. Williams (eds.) ; [foreword by Sir John Meurig Thomas]
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Berlin : Springer , c2016 |
| 大きさ | xxxiii, 518 p. : ill. (some col.), ports. ; 29 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 理工学部 機械系 | : [hardback] | 549.97||C9171 | 166100087 |
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| 書誌ID | BB12976441 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | "This text is a companion volume to Transmission electron microscopy : a textbook for materials sciences by Williams and Carter."--P. [4] of cover Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | Carter, C. Barry *Williams, David B. (David Bernard), 1949- Thomas, J. M. (John Meurig) |
| 巻冊次 | : [hardback] ; ISBN:9783319266497 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BB22301599 |
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