Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis / Wayne B. Nelson
(Wiley series in probability and mathematical statistics)
(Wiley-interscience paperback series)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | Hoboken, N.J. : Wiley , c2004 |
| 大きさ | xiv, 601 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 文化情報学部 | : pbk. | 417||N9672 | 086701190 |
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| 書誌ID | BB10293180 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. 561-577) and index |
| 著者標目 | *Nelson, Wayne, 1936- |
| 件 名 | LCSH:Failure time data analysis LCSH:Reliability (Engineering) -- Statistical methods 全ての件名で検索 LCSH:Accelerated life testing -- Statistical methods 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QA276 DC20:519.5 |
| 巻冊次 | : pbk. ; ISBN:0471697362 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BA70756424 |
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