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テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著

データ種別 図書
出版者 京都 : ナカニシヤ出版
出版年 2022.9
大きさ ix, 239p : 挿図 ; 26cm

所蔵情報を非表示

今出川図書館 寧静館1階(開架)
376.87||M10301 229104234


書誌詳細を非表示

書誌ID BB13197078
本文言語 日本語
別書名 裏表紙タイトル:Item response theory
標題紙タイトル:test
一般注記 参考文献: p233-237
事項索引: p238
人名索引: p.239
著者標目  光永, 悠彦(1979-) <ミツナガ, ハルヒコ>
 西田, 亜希子(1976-) <ニシダ, アキコ>
件　名 NDLSH:教育測定
NDLSH:試験 (教育)
BSH:入学試験(大学)
分　類 NDC9:371.7
NDC9:376.8
NDC10:376.87
巻冊次 ISBN:9784779516832 ; PRICE:3300円+税 RefWorks出力（各巻）
NCID BC17143066
目次・あらすじ

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