Xセン ハンシャリツホウ ニュウモン
X線反射率法入門 = Introduction to X-ray reflectivity / 桜井健次編著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 新版 |
| 出版者 | 東京 : 講談社 |
| 出版年 | 2018.6 |
| 大きさ | xiv, 369p : 挿図 ; 21cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ラーネッド記念図書館 第2開架 |
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427.55||S9383 | 189201103 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB13062515 |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 一般注記 | 文献あり |
| 著者標目 | 桜井, 健次 <サクライ, ケンジ> |
| 件 名 | BSH:薄膜 BSH:エックス線 BSH:非破壊検査 NDLSH:エックス線回折 |
| 分 類 | NDC8:549.8 NDC9:427.55 NDC9:549.8 NDC10:549.8 |
| 巻冊次 | ISBN:9784061532960 ; PRICE:6300円+税 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BB26440247 |
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