ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry / edited by John C. Vickerman and David Briggs
データ種別 | 図書 |
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出版情報 | Chichester : IM , c2001 |
大きさ | ix, 789 p. : ill. ; 26 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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ラーネッド記念図書館 書庫1階 |
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431.86||V9353 | 079200735 |
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書誌ID | BB10222475 |
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本文言語 | 英語 |
一般注記 | Includes bibliographical references and index |
著者標目 | Vickerman, J. C. Briggs, D. |
件 名 | LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis
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LCSH:Mass spectrometry |
分 類 | DC21:541.33 NDC9:431.86 |
巻冊次 | ISBN:1901019039 ; PRICE:£160.00 RefWorks出力(各巻) |
NCID | BA78492213 |
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