デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン
デバイス・部品の信頼性試験 / 高久清〔ほか〕著
(信頼性110番シリーズ ; 2)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : 日科技連出版社 , 1992.9 |
| 大きさ | x, 164p ; 21cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ラーネッド記念図書館 書庫1階 |
|
549.8||T363 | 963002950 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB00866882 |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 著者標目 | 高久, 清(1943-) <タカヒサ, キヨシ> |
| 件 名 | BSH:半導体 BSH:集積回路 BSH:信頼性(工学) |
| 分 類 | NDC8:549.8 |
| 巻冊次 | ISBN:4817130288 ; PRICE:2200円 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BN08248468 |
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