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Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer

データ種別 図書
出版者 New York : North-Holland : Elsevier Science Pub.
出版年 c1986
大きさ xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm

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理工学部 電気系
428.4||F3 862014415


理工学部 電気系
428.4||F3 872013744


書誌詳細を非表示

書誌ID BB00004278
本文言語 英語
一般注記 Includes bibliographies and index
著者標目  *Feldman, Leonard C.
 Mayer, James W., 1930-
件　名 LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis  全ての件名で検索
LCSH:Thin films -- Analysis  全ての件名で検索
分　類 LCC:QD506
DC19:530.4/1
巻冊次 ISBN:0444009892 RefWorks出力（各巻）
NCID BA0028903X
目次・あらすじ

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