IEEE international reliability physics proceedings / sponsored by the IEEE Electronic Devices Society and the IEEE Reliability Society
| データ種別 | 雑誌 |
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| 巻次年月次 | 32nd (Apr. 12/13/14, 1994)-34th (Apr. 30/May 1/2, 1996) |
| 出版者 | Piscataway, N.J. : IEEE |
| 出版年 | c1994-c1996 |
| 大きさ | 3 v. : ill. ; 28 cm |
| 雑誌巻号一覧 |
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所蔵巻号一覧
【各巻所蔵】
| 配架場所 | 巻号 | 年次/刊行日 | 請求記号 | 資料番号 | 状態 | コメント | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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| 理工学部 電気・書庫 一括所蔵 1111 | |||||||||
| 理工学部 電気・書庫 | 一括所蔵 | 1111 | 542||RS |
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| 書誌ID | SB00950972 |
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| 刊行頻度 | 年刊 |
| 本文言語 | 英語 |
| 別書名 | 略タイトル:IEEE int. reliab. phys. proc キータイトル:IEEE international reliability physics proceedings 題字欄タイトル:International reliability physics proceedings |
| 変遷注記 | 継続前誌:Annual proceedings, reliability physics 継続後誌:IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings / sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society |
| 著者標目 | Reliability Physics Symposium IEEE Electron Devices Society IEEE Reliability Society |
| 件 名 | LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Reliability -- Congresses
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LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Reliability -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| ISSN | 10827285 |
| NCID | AA11059226 |