こちらに共通ヘッダが追加されます。

このページのリンク

LSI テスティング ハンドブック
LSIテスティングハンドブック / LSIテスティング学会編

データ種別 図書
出版者 東京 : オーム社
出版年 2008.11
大きさ xii, 598p : 挿図 ; 22cm

所蔵情報を非表示

ラーネッド記念図書館 第3開架
549.7||L9579 119204087


書誌詳細を非表示

書誌ID BB12391281
本文言語 日本語
別書名 異なりアクセスタイトル:LSIテスティング : ハンドブック
一般注記 参考文献: 節末
索引: p[563]-598
著者標目 LSIテスティング学会 <LSI テスティング ガッカイ>
件 名 BSH:集積回路 -- 便覧  全ての件名で検索
NDLSH:大規模集積回路
分 類 NDC8:549.7
NDC9:549.7
巻冊次 ISBN:9784274206320 ; PRICE:11000円+税 RefWorks出力(各巻)
NCID BA87814208
目次・あらすじ

 類似資料