Solutions manual to accompany Applied survival analysis : regression modeling of time to event data / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow ; solutions manual authored by Sunny Kim
(Wiley series in probability and mathematical statistics)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | New York : John Wiley & Sons |
出版年 | c2002 |
大きさ | vii, 232 p. : ill. ; 28 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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社会学部 B1書庫 | : pbk | 490.1||H9196 | 042301021 |
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書誌ID | BB10092934 |
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本文言語 | 英語 |
一般注記 | "Wiley-Interscience." |
著者標目 | *Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley Kim, Sunny |
件 名 | LCSH:Medicine -- Research -- Statistical methods
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LCSH:Medical sciences -- Statistical methods -- Computer programs 全ての件名で検索 LCSH:Regression analysis -- Data processing 全ての件名で検索 LCSH:Prognosis -- Statistical methods 全ての件名で検索 LCSH:Logistic distribution |
分 類 | NDC9:490.7 LCC:R853.S7 DC21:610/.7/27 |
巻冊次 | : pbk ; ISBN:0471249793 RefWorks出力(各巻) |
NCID | BA62342368 |
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