シンリ テスト ノ カクリツ モデル
心理テストの確率モデル / ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 名古屋 : 名古屋大学出版会 |
| 出版年 | 1985.8 |
| 大きさ | xxviii, 237p, 図版 [1] p ; 21cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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| 今出川図書館 学外倉庫 |
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140.72||R5 | 851007137 |
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| ラーネッド記念図書館 書庫1階 |
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140.72||R5 | 159201931 |
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| 文化情報学部 林知己夫文庫 |
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140.72||R5 | 076700817 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB00610089 |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 別書名 | 原タイトル:Probabilistic models for some intelligence and attainment tests |
| 一般注記 | 著者の肖像あり 文献: p229-231 |
| 著者標目 | *Rasch, G. (Georg), 1901- 内田, 良男 <ウチダ, ヨシオ> |
| 件 名 | NDLSH:精神測定 |
| 分 類 | NDC8:140.7 NDLC:SB31 |
| 巻冊次 | ISBN:493068935X ; PRICE:3500円 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BN00541130 |
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