キメイゴ ニ オコナウ キオク テスト ノ ケイシキ ガ テスト コウカ ノ セイキ ニ オヨボス エイキョウ
記銘後に行う記憶テストの形式がテスト効果の生起に及ぼす影響 / 長大介著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 風間書房 |
| 出版年 | 2023.2 |
| 大きさ | ii, 175p : 挿図 ; 22cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ラーネッド記念図書館 第1開架 |
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141.34||C10188 | 239200061 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB13207954 |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 一般注記 | 博士論文 (法政大学, 2019年) を刊行したもの 引用文献: p161-172 |
| 著者標目 | 長, 大介(1986-) <チョウ, ダイスケ> |
| 件 名 | BSH:記憶 NDLSH:記憶 |
| 分 類 | NDC9:141.34 NDC10:141.34 NDLC:SB85 |
| 巻冊次 | ISBN:9784759924633 ; PRICE:6000円+税 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BD00753081 |
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