テスト ト シンライセイ
テストと信頼性 / 樹下行三編著
(マイクロコンピュータ基礎講座 ; 5)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : オーム社 |
| 出版年 | 1982.4 |
| 大きさ | 218p ; 22cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 今出川図書館 学外倉庫 |
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418.6||M60||5 | 820503272 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB00614297 |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 一般注記 | 監修:石井治,相磯秀夫 参考文献:p209〜214 |
| 著者標目 | 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> |
| 件 名 | NDLSH:電子計算機 |
| 分 類 | NDC8:548.2 NDC8:007.6 NDLC:M154 |
| 巻冊次 | PRICE:2500円 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BN00609041 |
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