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Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. / editors: C.V. Thompson, J.R. Lloyd
(Materials Research Society symposium proceedings ; v. 265)

データ種別 図書
出版者 Pittsburgh, PA : Materials Research Society
出版年 c1992
大きさ ix, 328 p. : ill. ; 24 cm

所蔵情報を非表示

理工学部 電気系
549.8||L346 932005888


書誌詳細を非表示

書誌ID BB00217218
本文言語 英語
一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目  Thompson, C. V. (Carl V.)
 Lloyd, J. R. (James R.)
件　名 LCSH:Microelectronics -- Reliability -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Microelectronics -- Materials -- Testing -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Electrodiffusion -- Congresses  全ての件名で検索
LCSH:Microstructure -- Congresses  全ての件名で検索
分　類 LCC:TK7874
DC20:621.381
巻冊次 ISBN:1558991603 RefWorks出力（各巻）
NCID BA18823607
目次・あらすじ

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