ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 東京 : 養賢堂 |
| 出版年 | 2006.7 |
| 大きさ | vii, 363p : 挿図 ; 21cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ラーネッド記念図書館 第3開架 |
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501.322||T9385 | 079252894 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB10259197 |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 別書名 | その他のタイトル:Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 異なりアクセスタイトル:残留応力のX線評価 : 基礎と応用 異なりアクセスタイトル:Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications |
| 一般注記 | 欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 欧文タイトルは標題紙裏による 参考文献: 各章末 |
| 著者標目 | 田中, 啓介(1943-) <タナカ, ケイスケ> 鈴木, 賢治(1958-) <スズキ, ケンジ> 秋庭, 義明(1959-) <アキニワ, ヨシアキ> |
| 件 名 | NDLSH:応力 |
| 分 類 | NDC9:501.32 |
| 巻冊次 | ISBN:484250384X ; PRICE:6000円+税 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BA77874054 |
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