IEEE international reliability physics proceedings / sponsored by the IEEE Electronic Devices Society and the IEEE Reliability Society
データ種別 | 雑誌 |
---|---|
巻次年月次 | 32nd (Apr. 12/13/14, 1994)-34th (Apr. 30/May 1/2, 1996) |
出版者 | Piscataway, N.J. : IEEE |
出版年 | c1994-c1996 |
大きさ | 3 v. : ill. ; 28 cm |
雑誌巻号一覧 |
所蔵情報を非表示
所蔵巻号一覧
【各巻所蔵】
配架場所 | 巻号 | 年次/刊行日 | 請求記号 | 資料番号 | 状態 | コメント | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
理工学部 電気・書庫 一括所蔵 1111 | |||||||||
理工学部 電気・書庫 | 一括所蔵 | 1111 | 542||RS |
|
|
|
|
書誌詳細を非表示
書誌ID | SB00950972 |
---|---|
刊行頻度 | 年刊 |
本文言語 | 英語 |
別書名 | 略タイトル:IEEE int. reliab. phys. proc キータイトル:IEEE international reliability physics proceedings 題字欄タイトル:International reliability physics proceedings |
変遷注記 | 継続前誌:Annual proceedings, reliability physics 継続後誌:IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings / sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society |
著者標目 | Reliability Physics Symposium IEEE Electron Devices Society IEEE Reliability Society |
件 名 | LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Reliability -- Congresses
全ての件名で検索
LCSH:Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Reliability -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Integrated circuits -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 |
ISSN | 10827285 |
NCID | AA11059226 |
類似資料
この資料の利用統計
このページへのアクセス回数:1回
※2020年8月16日以降