IET science, measurement & technology
データ種別 | 電子ジャーナル |
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巻次年月次 | Vol. 1, no. 1 (Jan. 2007)- |
出版者 | [Stevenage, UK] : Institution of Engineering and Technology |
出版者 | [Hoboken N.J.] : John Wiley & Sons Inc. [on behalf of The Institution of Engineering and Technology] |
出版年 | ©2007- |
雑誌巻号一覧 |
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書誌ID | OJ00152108 |
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刊行頻度 | 隔月刊 |
本文言語 | 英語 |
別書名 | 略タイトル:IET sci. meas. technol. (Online) キータイトル:IET science, measurement & technology (Online) その他のタイトル:IET science measurement and technology その他のタイトル:Institution of Engineering and Technology science, measurement & technology その他のタイトル:Institution of Engineering and Technology science, measurement and technology |
変遷注記 | 継続前誌:IEE proceedings. Science, measurement and technology. ISSN:1359-7094. |
一般注記 | Current Publication Frequency:Bimonthly License restrictions may limit access Summary:Publishes papers in science, engineering and technology underpinning electronic and electrical engineering, nanotechnology and medical instrumentation Vol. 1, issue 1 (Jan. 2007); title from journal homepage (IEEE Xplore, viewed July 20, 2009) Volume 15, Issue 9 (November 2021) (Wiley, viewed Nov. 11, 2021) Available in other form:IET science, measurement & technology ISSN:1751-8822 |
著者標目 | Institution of Engineering and Technology |
件 名 | LCSH:Measurement -- Periodicals
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LCSH:Electrical engineering -- Periodicals 全ての件名で検索 LCSH:Electronics -- Periodicals 全ての件名で検索 LCSH:Nanotechnology -- Periodicals 全ての件名で検索 CSHF:Mesure -- Périodiques 全ての件名で検索 CSHF:Génie électrique -- Périodiques 全ての件名で検索 CSHF:Électronique -- Périodiques 全ての件名で検索 FREE:Electrical engineering FREE:Electronics FREE:Measurement FREE:Nanotechnology FREE:Engineering FREE:Measurement FREE:Technology (General) FREE:Science (General) |
資料種別 | 機械可読データファイル |
ISSN | 17518830 |
XISSN | 17518822 |
所蔵情報へのリンク | IET science, measurement & technology |
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