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ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著

データ種別 図書
出版者 東京 : 丸善プラネット
出版年 2013.8
大きさ viii, 344p : 挿図 ; 30 cm

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ラーネッド記念図書館 第3開架
549.8||A9211 139202311


書誌詳細を非表示

書誌ID BB12630110
本文言語 日本語
一般注記 その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
著者標目  荒井, 英輔 <アライ, エイスケ>
 塩野, 登(1947-) <シオノ, ノボル>
岩根, 眼藏 <イワネ, ガンゾウ>
巻冊次 ISBN:9784863451728 ; PRICE:8000円+税 RefWorks出力(各巻)
NCID BB13216182
目次・あらすじ

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