ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : 丸善プラネット |
出版年 | 2013.8 |
大きさ | viii, 344p : 挿図 ; 30 cm |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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ラーネッド記念図書館 第3開架 |
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549.8||A9211 | 139202311 |
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書誌詳細を非表示
書誌ID | BB12630110 |
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本文言語 | 日本語 |
一般注記 | その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力 |
著者標目 | 荒井, 英輔 <アライ, エイスケ> 塩野, 登(1947-) <シオノ, ノボル> 岩根, 眼藏 <イワネ, ガンゾウ> |
巻冊次 | ISBN:9784863451728 ; PRICE:8000円+税 RefWorks出力(各巻) |
NCID | BB13216182 |
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