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シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著

データ種別 図書
出版者 東京 : 早稲田大学出版部
出版年 1991.4
大きさ xvii, 313p : 挿図 ; 22cm

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今出川図書館 博遠館書庫
371.8||T7 911005189


文化情報学部 林知己夫文庫
371.8||T7 076700294


スポ健 書庫
371.8||T7 912007779


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書誌ID BB00816578
本文言語 日本語
別書名 異なりアクセスタイトル:新テスト理論 : 教育情報の構造分析
一般注記 参考文献: p301-309
著者標目  *竹谷, 誠(1941-) <タケヤ, マコト>
件 名 BSH:教育評価
分 類 NDC8:371.7
NDC7:371.8
NDLC:FC63
巻冊次 ISBN:4657914162 ; PRICE:4841円 RefWorks出力(各巻)
NCID BN06351080
目次・あらすじ

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