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ヒョウメンブンセキ SIMS : ニジイオンシツリョウブンセキホウノキソトオウヨウ
表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳

配架場所	巻　次	請求記号	資料番号	状　態	コメント	予約	文庫区分	教員指定/教員執筆/多読	仮想書架
ラーネッド記念図書館第2開架		428.4\|\|B9185	039202711			予約			仮想書架	予約	仮想書架

書誌ID	BB00577420
本文言語	日本語
別書名	原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
一般注記	引用文献: 各章末 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
著者標目	Briggs, D. Seah, M. P. 志水, 隆一 <シミズ, リュウイチ> 二瓶, 好正(1940-) <ニヘイ, ヨシマサ> 新SIMS研究会 <シンシムスケンキュウカイ>
件　名	BSH:表面(工学上) BSH:イオンビーム BSH:質量分析
分　類	NDC8:428.4 NDC9:428.4
巻冊次	ISBN:4900508101 ; PRICE:8500円 RefWorks出力（各巻）
NCID	BA62889819

目次・あらすじ