ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : アグネ承風社 |
出版年 | 2003.7 |
大きさ | xix, 429p : 挿図 ; 21cm |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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ラーネッド記念図書館 第2開架 |
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428.4||B9185 | 039202711 |
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書誌詳細を非表示
書誌ID | BB00577420 |
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本文言語 | 日本語 |
別書名 | 原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy |
一般注記 | 引用文献: 各章末 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳 |
著者標目 | Briggs, D. Seah, M. P. 志水, 隆一 <シミズ, リュウイチ> 二瓶, 好正(1940-) <ニヘイ, ヨシマサ> 新SIMS研究会 <シン シムス ケンキュウカイ> |
件 名 | BSH:表面(工学上) BSH:イオンビーム BSH:質量分析 |
分 類 | NDC8:428.4 NDC9:428.4 |
巻冊次 | ISBN:4900508101 ; PRICE:8500円 RefWorks出力(各巻) |
NCID | BA62889819 |
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