Electrical phenomena at interfaces : fundamentals, measurements, and applications / edited by Hiroyuki Ohshima, Kunio Furusawa
(Surfactant science series ; v. 76)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 2nd ed., rev. and expanded |
| 出版者 | New York : M. Dekker |
| 出版年 | c1998 |
| 大きさ | xiii, 628 p. : ill. ; 26 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 理工学部 化学系 |
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576.5||S638||76 | 036100153 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB00396758 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | Ohshima, Hiroyuki Furusawa, Kunio |
| 件 名 | LCSH:Surface chemistry LCSH:Electric double layer |
| 分 類 | LCC:QD506 DC21:541.3/3 |
| 巻冊次 | ISBN:0824790391 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BA37518542 |
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