Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. / editors, Stella W. Pang ... [et al.]
(Materials Research Society symposium proceedings ; v. 406)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society |
| 出版年 | c1996 |
| 大きさ | xv, 585 p. : ill. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 理工学部 電気系 |
|
549.8||D327||2 | 962032608 |
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書誌詳細を非表示
| 書誌ID | BB00315107 |
|---|---|
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 著者標目 | Pang, Stella W. |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors -- Testing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7871.85 DC20:621.3815/2/0287 |
| 巻冊次 | ISBN:1558993096 RefWorks出力（各巻） |
| NCID | BA27647946 |
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