Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A. / editors, S. Ashok ... [et al.]
(Materials Research Society symposium proceedings ; v. 378)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Pittsburgh, PA : Materials Research Society |
出版年 | c1995 |
大きさ | xxii, 1054 p. ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 文庫区分 | 教員指定/教員執筆/多読 | 仮想書架 |
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理工学部 電気系 |
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549.8||A571 | 962033344 |
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書誌詳細を非表示
書誌ID | BB00304116 |
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本文言語 | 英語 |
一般注記 | Includes bibliographical references and index |
著者標目 | Ashok, S. |
件 名 | LCSH:Semiconductors LCSH:Semiconductors -- Defects 全ての件名で検索 LCSH:Semiconductors -- Impurity distribution 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7871.85 DC20:621.3815/2 |
巻冊次 | ISBN:1558992812 RefWorks出力(各巻) |
NCID | BA26261717 |
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