Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer
データ種別 | 図書 |
---|---|
出版者 | New York : North-Holland : Elsevier Science Pub. |
出版年 | c1986 |
大きさ | xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm |
書誌詳細を非表示
書誌ID | BB00004278 |
---|---|
本文言語 | 英語 |
一般注記 | Includes bibliographies and index |
著者標目 | *Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- |
件 名 | LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis
全ての件名で検索
LCSH:Thin films -- Analysis 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:QD506 DC19:530.4/1 |
巻冊次 | ISBN:0444009892 RefWorks出力(各巻) |
NCID | BA0028903X |
目次・あらすじ
類似資料
この資料の利用統計
このページへのアクセス回数:3回
※2020年8月16日以降
全貸出数:1回
(1年以内の貸出:0回)
※2000年4月1日以降