Wang, Francis C.
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| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | His Digital circuit testing, 1991: CIP t.p. (Francis C. Wang; Seattle Univ., Redmond, Wash.) |
| コード類 | 典拠ID=AU00223137 NCID=DA05780596 |
| 1 | 孫子 / [孫子著] ; フランシス・ワン仏訳 ; 小野繁訳 ; 重松正彦註記 福岡 : 葦書房 , 1991.8 |